[发明专利]基于芯片的电磁发射确定关于芯片内部操作的信息的方法无效
| 申请号： | 200680009135.8 | 申请日： | 2006-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN101506676A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 约翰·慧一 | 申请（专利权）人： | VNS组合有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/311 | 分类号： | G01R31/311 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陆 弋;王诚华 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于确定集成电路(IC)内部操作的新颖方法，包括测量来自集成电路芯片的电磁(EM)发射以及分析EM发射。在特定的方法中，利用封闭式RF探针测量来自IC的EM发射。在特定的方法中，测量以各种方式配置的IC的电磁发射。在正常操作模式下，在对IC供电并提供任何外部时钟信号时，测量EM发射。在测量正常操作模式下IC的EM发射之后，通过使外部时钟信号对IC无效并重新测量EM发射来重新配置IC。通过对IC断电、使外部时钟信号无效、然后对IC重新供电，使外部时钟信号无效。在另一第三测试模式下，在对IC持续供电时，使外部时钟信号重新有效。可以通过分析在三个测试模式中的一个或多个测试模式下所获得的频谱扫描数据，来确定关于IC内部时钟存在与否和/或操作是否正确的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 芯片 电磁 发射 确定 关于 内部 操作 信息 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于确定集成电路内部操作的方法，包括：测量来自所述集成电路的电磁发射；并且分析所述电磁发射。
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