[发明专利]质量分析数据解析装置及程序有效

专利信息
申请号: 200680004434.2 申请日: 2006-04-27
公开(公告)号: CN101115991A 公开(公告)日: 2008-01-30
发明(设计)人: 山内一夫;山本善丈;梅村佳克 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李贵亮
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种质量分析数据解析装置,在质量分析数据解析装置中作为解析对象的质谱数据使用质心数据。首先,将所述质心数据的峰值从强度大的峰值起顺次指定为用于同定同位素群的基准峰值,将在该基准峰值的前后所排列的峰值的出现模式与假设各价数时所预想的同位素群的出现模式进行比较,检测出同位素群。将由此所同定的同位素群的价数设为该同位素群所属的峰值的价数,将该群的前头的峰值同定为单一同位素峰值。根据这样的质量分析数据解析装置,能在短时间内进行质谱上的各峰值的价数的判定及单一同位素峰值的同定。
搜索关键词: 质量 分析 数据 解析 装置 程序
【主权项】:
1.一种质量分析数据解析装置,通过对质量分析所取得的质谱数据进行解析,来判定该质谱中的各离子峰值的价数以及同定单一同位素峰值,该质量分析数据解析装置具备:(a)质心数据作成部件,根据作为所述质谱数据所取得的分布数据来作成质心数据;和(b)数据解析部件,根据所述质心数据上峰值的出现模式来检测出质谱上的同位素群,根据其结果对该同位素群所属的峰值的价数进行判定以及对该同位素群的单一同位素峰值进行同定。
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