[发明专利]光拾取装置无效

专利信息
申请号: 200680000878.9 申请日: 2006-11-06
公开(公告)号: CN101124632A 公开(公告)日: 2008-02-13
发明(设计)人: 新勇一;大田耕平;桥村淳司;池中清乃 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 许海兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种光拾取装置,其具有比较简单的结构,能够对不同的光信息记录介质互换可能地进行信息的记录以及/或再现,为此,使第1物镜(OBJ1)的光学面和第2物镜(OBJ2)的光学面仅由折射面来形成。并且,可以将第1物镜设计为最适合于波长λ1的第1光束和第1光盘(OD1)的保护层t1。另一方面,将第2物镜(OBJ2)通用于波长λ1的第1光束和波长λ2的第2光束,但在第2光盘(OD2)的保护层t2与第3光盘(OD3)的保护层t3相同时,因为没有必要考虑保护层厚的差,所以能够实现容易设计和低成本。而且,基于所述第1光束与所述第2光束波长差的色像差,可以通过使第2耦合透镜(COL2)变位,改变向第2物镜(OBJ2)的发散角,进行修正。
搜索关键词: 拾取 装置
【主权项】:
1.一种光拾取装置,其包括:射出波长λ1光束的第1光源;射出波长λ2光束的第2光源;第1对物光学元件,备有仅由折射面组成的光学面;第2物光学元件,备有仅由折射面组成的光学面;其中,从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束由所述第1对物光学元件聚光,能够对保护层厚t1的第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,另外,从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束由所述第2对物光学元件聚光,能够对保护层厚t2的第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,并且,从所述第2光源射出的所述波长λ2的第2光束由所述第2对物光学元件聚光,能够对保护层厚t3、且轨迹间距大于所述第2信息记录介质的第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,其中,λ1<λ2、t2>t1、0.9t2≤t3≤1.1t2,其特征在于:具有将所述第1光束导向所述第1对物光学元件的第1光路、将所述第1光束导向所述第2对物光学元件的第2光路、将所述第2光束导向所述第2对物光学元件的第3光路;在所述第1光源和第1对物光学元件之间的所述第1光路中,设置了偏振开关手段和第1偏振分光器;在所述第1光源和第2对物光学元件之间的所述第2光路中,设置了所述偏振开关手段、所述第1偏振分光器、波长选择性元件、像差修正机构;在所述第2光源和第2对物光学元件之间的所述第3光路中,设置了所述波长选择性元件和所述像差修正机构;用所述第1光束,经由所述第1对物光学元件,对所述第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成时,所述偏振开关手段使得从所述第1光源射出的所述第1光束处于第1偏振状态,由此穿过所述第1偏振分光器入射到所述第1对物光学元件;用所述第1光束,经由所述第2对物光学元件,对所述第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成时,所述偏振开关手段使得从所述第1光源射出的所述第1光束处于第2偏振状态,由此在所述第1偏振分光器被反射,进一步在所述波长选择性元件被反射,穿过所述像差修正机构而被付与第1像差状态,入射到所述第2对物光学元件;用所述第2光束,经由所述第2对物光学元件,对所述第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成时,从所述第2光源射出的所述第2光束穿过所述波长选择性元件,穿过所述像差修正机构而被付与第2像差状态,入射到所述第2对物光学元件;当使波长λ3的平行光束入射到所述第2对物光学元件时,在保护层厚t4、且轨迹间距大于所述第3信息记录介质的第4光信息记录介质的信息记录面上形成的聚光点中,波阵面像差在0.07λ3rms以上,其中,1.7λ1≤λ3≤2.3λ1、t4>t3。
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