[实用新型]芯片检测装置无效
申请号: | 200620058930.3 | 申请日: | 2006-05-10 |
公开(公告)号: | CN2903999Y | 公开(公告)日: | 2007-05-23 |
发明(设计)人: | 林东宁;张强 | 申请(专利权)人: | 珠海天威技术开发有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 珠海智专专利商标代理有限公司 | 代理人: | 吴志鸿 |
地址: | 519060广东省珠海*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种芯片检测装置,包括主机、由导线连接至主机的测试元件以及同主机导线连接的至少一个显示元件,该显示元件设置在测试元件上。当芯片检测装置检测芯片时,可通过观察设置在测试元件上的显示元件来判断芯片的性能,使得操作者能够方便准确地对芯片执行检测操作。 | ||
搜索关键词: | 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】:
1、芯片检测装置,包括主机和由导线连接至主机的测试元件;其特征在于:所述芯片检测装置,进一步包括同主机导线连接的至少一个显示元件,其设置在测试元件上。
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