[发明专利]加权缺陷评估装置以及其相关方法无效
| 申请号： | 200610168766.6 | 申请日： | 2006-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN1988024A | 公开（公告）日： | 2007-06-27 |
| 发明（设计）人： | 曾维祥;陈新正;陈炳盛 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18;G11B7/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陶海萍 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种加权缺陷评估装置以及其相关方法。该加权缺陷评估装置包含有：一缺陷检测单元，用来当检测到位于一光盘片上一预定区域的一缺陷时，产生一缺陷值；一加权电路，电连接至该缺陷检测单元，用来根据该缺陷值以及对应该缺陷于该光盘片上的一位置的一权重因子，以产生一权重缺陷值；以及一运算装置，电连接至该加权电路，用来根据对应该预定区域的复数个权重缺陷值，以对一缺陷评估值进行运算。通过本发明，可以准确地估计缺陷值，还正确地反应出缺陷所带来的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 加权 缺陷 评估 装置 及其 相关 方法 | ||
【主权项】：
1.一种加权缺陷评估装置，用来决定一缺陷评估值，其特征在于，所述加权缺陷评估装置包含有：一缺陷检测单元，用来当检测到位于一光盘片上的一预定区域的一缺陷时，产生一缺陷值；一加权电路，电连接至所述缺陷检测单元，用来根据所述缺陷值以及对应所述缺陷于所述光盘片上的一位置的一权重因子，来产生一权重缺陷值；以及一运算装置，电连接至所述加权电路，用来根据对应所述预设区域的复数个权重缺陷值，来输出所述缺陷评估值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联发科技股份有限公司，未经联发科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610168766.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：为电子邮件消息的附加文档提供版本控制的方法和系统
- 下一篇：粘合片材
