[发明专利]内建式自我测试启动方法及其系统有效
| 申请号： | 200610164288.1 | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1979690A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 庄建祥 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陈晨 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明揭示用以启动待测电路中内建式自我测试的方法与系统。在至少一个存储器模块中配置具有预定尺寸的至少一个存储器区段作为测试结果模块后，启动适用于待测电路的内建式自我测试，其中测试结果模块并没有被测试。测试结果存储于测试结果模块中。 | ||
| 搜索关键词： | 内建式 自我 测试 启动 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
1.一种内建式自我测试启动方法，适用于启动待测电路中的内建式自我测试，包括：在至少一个存储器模块中配置具有预定尺寸的至少一个存储器区段，作为测试结果模块；启动适用于上述待测电路的内建式自我测试；以及存储测试结果于上述测试结果模块中。
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