[发明专利]全像光学储存系统中侦测与补偿损坏像素的方法无效
申请号: | 200610149763.8 | 申请日: | 2006-11-27 |
公开(公告)号: | CN101193247A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | 郑新平;张佳彦 | 申请(专利权)人: | 建兴电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/89 | 分类号: | H04N5/89;H04N5/91;G11B7/0065;G03H1/04;G03H1/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种全像光学储存系统中侦测损坏像素的方法,包括:提供多数幅影像信息依序显示于一资料平面上,资料平面中的每个像素皆会显示一亮一暗的二种状态;依序将该些幅影像信息记录于一储存媒介中;利用一光侦测装置接收记录于储存媒介中的幅影像信息,使得光侦测装置中的每一个像素皆可接收到亮暗的二种状态使得每一个相素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号;分别将两光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值;将光感测信号差值与一临限值进行比较;当光感测信号差值大于临限值时,定义相对应的像素为无损坏;以及,当光感测信号差值小于临限值时,定义相对应的像素为一损坏像素。 | ||
搜索关键词: | 光学 储存 系统 侦测 补偿 损坏 像素 方法 | ||
【主权项】:
1.一种全像光学系统中侦测损坏像素的方法,其特征在于,包括下列步骤:提供多数幅影像信息依序显示于一资料平面上,使得该资料平面中的每个像素皆会显示一亮以及一暗的二种状态;依序将该显示平面上的该些幅影像信息记录于一储存媒介中;提供一激光束直接照射于一光侦测装置;利用该光侦测装置依序接收记录于该储存媒介中的该些幅影像信息,使得该光侦测装置中的每一个像素皆可接收到该亮以及该暗的二种状态并使得每一个相素皆可以相对应的产生大小不同的光感测信号;分别将每个像素所依序产生大小不同的光感测信号进行相减并获得一光感测信号差值;将该光感测信号差值与一临限值进行比较;当该光感测信号差值大于该临限值时,定义该相对应的像素为无损坏;以及当该光感测信号差值小于该临限值时,定义该相对应的像素为一损坏像素。
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