[发明专利]粒子束流截面直径控制器件及其制备方法无效
| 申请号： | 200610147231.0 | 申请日： | 2006-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN1988052A | 公开（公告）日： | 2007-06-27 |
| 发明（设计）人： | 王志民 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G21K1/02 | 分类号： | G21K1/02 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 | 代理人： | 王锡麟;张宗明 |
| 地址： | 200240*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种粒子束流截面直径控制器件及其制备方法，属于材料科学领域。本发明粒子束流截面直径控制器件，为管状体、内径1－5nm、外径大于1mm、长度1－10mm。本发明还提供了粒子束流截面直径控制器件的制备方法，通过对商业空心石英玻璃棒进行加温、拉伸、冷却、外套空心石英玻璃棒和再加温、拉伸、冷却等程序，最后用钻石刀或激光刀切割，获得内径1－5nm、外径在1mm以上、长度1－10mm的纳米器件。本发明粒子束流截面直径控制器件，可实现在1－5nm级控制带电粒子或中子等束流的直径，提高对靶标处理的精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子束 截面 直径 控制 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种粒子束流截面直径控制器件，其特征在于，其形状为管状体，内径1-5nm、外径在1mm以上，长度1-10mm。
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