[发明专利]检测宽阵列头的有缺陷喷嘴的方法和设备无效
| 申请号： | 200610136074.3 | 申请日： | 2006-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN1974214A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 郑晋旭 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | B41J2/01 | 分类号： | B41J2/01;B41J2/165;B41J2/21 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;李晓舒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种检测宽阵列头的有缺陷喷嘴的方法和设备，该方法包括打印预定测试图案；通过用三种光源的光扫描已打印的预定测试图案，检测三种光源的光的反射率；和利用每个检测反射率检测有缺陷喷嘴。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 阵列 缺陷 喷嘴 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种检测宽阵列头的有缺陷喷嘴的方法，该方法包含：打印预定测试图案；通过用第一、第二和第三光源的光扫描已打印的预定测试图案，检测预定测试图案对第一、第二和第三光源的光的反射率；和利用每个检测反射率检测宽阵列头的有缺陷喷嘴。
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