[发明专利]确定放射线源至图像检测器的相对位置的方法和对应系统有效

专利信息
申请号: 200610108433.4 申请日: 2006-08-02
公开(公告)号: CN1908580A 公开(公告)日: 2007-02-07
发明(设计)人: 迪特尔·里特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01B15/00 分类号: G01B15/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 在用于确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)的方法中,将参考结构(30)按照至X射线源(6)的已知相对位置(42)置于X射线源(6)和X射线图像检测器(8)之间的射线路径(24)中,X射线图像检测器(8)记录一个带有参考结构(30)的成像(36)的X射线图像(32),在该X射线图像(32)中确定该参考结构(30)的成像(36)的位置(44),从中确定该参考结构(30)至X射线图像检测器(8)的相对位置(40),从中并且从该参考结构(30)至X射线源(6)的相对位置(42)中,确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)。本发明还涉及一种对应的X射线系统。
搜索关键词: 确定 放射线 图像 检测器 相对 位置 方法 对应 系统
【主权项】:
1.一种用于确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)的方法,其中:-将参考结构(30)按照其至X射线源(6)的已知相对位置(42)置于X射线源(6)和X射线图像检测器(8)之间的射线路径(24)中,-X射线图像检测器(8)记录一个带有参考结构(30)的成像(36)的X射线图像(32),-在该X射线图像(32)中确定该参考结构(30)的成像(36)的位置(44),-从中确定该参考结构(30)至X射线图像检测器(8)的相对位置(40),-从中并且从该参考结构(30)至X射线源(6)的相对位置(42)中,确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)。
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