[发明专利]确定放射线源至图像检测器的相对位置的方法和对应系统有效
申请号: | 200610108433.4 | 申请日: | 2006-08-02 |
公开(公告)号: | CN1908580A | 公开(公告)日: | 2007-02-07 |
发明(设计)人: | 迪特尔·里特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01B15/00 | 分类号: | G01B15/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 在用于确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)的方法中,将参考结构(30)按照至X射线源(6)的已知相对位置(42)置于X射线源(6)和X射线图像检测器(8)之间的射线路径(24)中,X射线图像检测器(8)记录一个带有参考结构(30)的成像(36)的X射线图像(32),在该X射线图像(32)中确定该参考结构(30)的成像(36)的位置(44),从中确定该参考结构(30)至X射线图像检测器(8)的相对位置(40),从中并且从该参考结构(30)至X射线源(6)的相对位置(42)中,确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)。本发明还涉及一种对应的X射线系统。 | ||
搜索关键词: | 确定 放射线 图像 检测器 相对 位置 方法 对应 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)的方法,其中:-将参考结构(30)按照其至X射线源(6)的已知相对位置(42)置于X射线源(6)和X射线图像检测器(8)之间的射线路径(24)中,-X射线图像检测器(8)记录一个带有参考结构(30)的成像(36)的X射线图像(32),-在该X射线图像(32)中确定该参考结构(30)的成像(36)的位置(44),-从中确定该参考结构(30)至X射线图像检测器(8)的相对位置(40),-从中并且从该参考结构(30)至X射线源(6)的相对位置(42)中,确定X射线源(6)至X射线图像检测器(8)的相对位置(46)。
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