[发明专利]利用发光集中的分析物检测无效
| 申请号： | 200610099620.0 | 申请日： | 2006-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1877310A | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | R·P·赫尔宾;B·U·柯里 | 申请（专利权）人： | 阿瓦戈科技通用IP（新加坡）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/76 | 分类号： | G01N21/76;G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 卢江;陈景峻 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 一种检测系统包括传感器结构、发光集中器和检测器。该传感器结构通过光的产生来指示样品中分析物的存在。该发光集中器接收来自于传感器结构的光并集中来自于传感器结构的光以增加亮度。该检测器检测从发光集中器接收到的光的亮度。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 发光 集中 分析 检测 | ||
【主权项】：
1、一种检测系统，包含：传感器结构，该传感器结构通过光的产生来指示样品中分析物的存在；发光集中器，该发光集中器接收来自于传感器结构的光，并集中来自于传感器结构的光以增加亮度；以及检测器，该检测器检测从发光集中器接收到的光的亮度。
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