[发明专利]解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法无效

专利信息
申请号: 200610091877.1 申请日: 2006-06-13
公开(公告)号: CN101089824A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 卢盈志 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F11/14 分类号: G06F11/14;G06F9/445;G11C29/12
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 任默闻
地址: 台湾省台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法,该方法通过基本输入输出系统的操作方式,对所提供的一多重处理器规范表及一进阶组态及电源接口表中代表可使用的中央处理单元的旗标值进行设定,以告知操作系统目前还有那些内建自我测试未失败的逻辑中央处理单元可被操作系统使用,如此,即可在完全无需增设额外硬件,且无需将整个实体中央处理单元(即“双核心”(Dual Core)及“超线程”(Hyper-Threading))设定成禁能状态的情形下,有效解决中央处理单元自我测试失败的问题,并完全使用到所有测试未失败的逻辑中央处理单元,使系统得以发挥其最大的效能。
搜索关键词: 解决 中央 处理 单元 自我 测试 失败 问题 方法
【主权项】:
1、一种解决中央处理单元的内建自我测试的失败问题的方法,其特征在于包括:通过一计算机系统的基本输入输出系统的操作方式,将该计算机系统上所设的至少一个实体处理器所包含的至少二个逻辑处理器中的一个逻辑处理器作为该计算机系统的开机处理器;将其它的逻辑处理器作为该计算机系统的应用处理器;对该基本输入输出系统提供的一多重处理器规范表及一进阶组态及电源接口表中代表可使用的处理器的旗标值进行设定,将内建自我测试失败的逻辑处理器设定成禁能状态;及令该计算机系统的操作系统自该多重处理器规范表与进阶组态及电源接口表中读出所述旗标值;判断是否已有内建自我测试成功的逻辑处理器;若是,即令该操作系统使用所述逻辑处理器。
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