[发明专利]一种用于测试仪的分时测试方法有效
| 申请号： | 200610090462.2 | 申请日： | 2006-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN101098359A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | 傅佳芳;黄一川;汪步江;高延玲 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04M3/24 | 分类号： | H04M3/24;G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 范晓燕 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于测试仪的分时测试方法，包括，根据被测对象的测试特性和方法，将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项；将上位机软件处理时间分片，在单个时间片内，上位机只与一个下位机进行通讯，依次完成所有下位机通讯，如此循环，直至所有的被测对象测试完成；上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成，测试结束，退出测试程序。采用本发明所述方法，与传统测试仪一次测试一个被测对象比较，通过分时测试，充分利用上位机性能，与多个下位机进行交互，同时完成多个被测对象，提高了测试效率；分时测试充分利用了测试仪资源，降低了测试仪成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试仪 分时 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试仪的分时测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、根据被测对象的测试特性和方法，将被测对象的测试流程分成相对独立且存在一定次序的测试项；步骤2、将上位机软件处理时间分片，在单个时间片内，上位机只与一个下位机进行通讯，依次完成所有下位机通讯，如此循环，直至所有的被测对象测试完成；步骤3、上位机软件查询到所有的被测对象都测试完成，测试结束，退出测试程序。
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