[发明专利]用于分析存储器元件的系统和方法有效
| 申请号： | 200610087729.2 | 申请日： | 2006-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN1881475A | 公开（公告）日： | 2006-12-20 |
| 发明（设计）人： | 彼得·费尔德曼;格泽高兹·M.·思维斯克;萨尼·R.·纳斯弗;巴维纳·阿格拉瓦尔;托马斯·J.·诺维克 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11B20/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 吴丽丽 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于分析存储器元件的系统和方法，包括：使用仿真方法对存储器元件进行建模，以及确定存储器元件中的部件的部件响应特性。在存储器元件的状态空间中计算指示稳定状态的安全区域。执行瞬态分析，以确定到达安全区域之一所需要的路径和时间。基于到达安全区域之一所需要的路径和时间，确定在该安全区域中放置对应状态的一个或者多个时钟波形。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 存储器 元件 系统 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于分析存储器元件的方法，包含步骤：使用仿真方法对该存储器元件进行建模；为该存储器元件中的部件确定部件响应特性；计算在该存储器元件的状态空间中的安全区域，所述安全区域指示存储器元件的稳定状态；执行瞬态分析，以确定到达安全区域之一所需要的路径和时间；以及基于达到安全区域之一所需要的路径和时间，确定时钟波形，所述时钟波形被配置为在所述安全区域之一中放置对应的状态。
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