[发明专利]转盘式测试分类装置

摘要

一种转盘式测试分类装置，用于检测并分类半导体构装元件，并包含一可置放半导体构装元件的置料单元、一转塔单元、一可将半导体构装元件于该置料单元与该转塔单元间搬移的取料单元，及一测试界面单元。该转塔单元具有一中心轴，及至少一设置在该中心轴上并可转动的转盘，该测试界面单元是设置在每一转盘上并可供半导体构装元件嵌合连接。借由设计成圆盘状的的转盘，以缩小所占用的平面空间，并透过该转盘的转动，能减少该取料单元搬移的距离，进而缩短半导体构装元件的取置时间，进一步缩短测试时间并提高产能，以降低生产成本。

主权项

1.一种转盘式测试分类装置是与一测试设备电连接，用于检测数个半导体构装元件的电性参数，该转盘式测试分类装置包含一可供分别放置待测试与测试完成的半导体构装元件的置料单元、一可搬移所述的半导体构装元件的取料单元，及一可与所述的半导体构装元件嵌接的测试界面单元，其特征在于：该转盘式测试分类装置还包含一转塔单元，该转塔单元具有一直立的中心轴，及至少一设置在该中心轴上并可绕该中心轴转动的转盘，该取料单元是介于该置料单元与该转塔单元间，可将所述的半导体构装元件于该置料单元与该转塔单元间进行搬移，该测试界面单元是设置在该转塔单元的转盘上并与该测试设备电连接，利用该取料单元将待测试的半导体构装元件，从该置料单元搬移至该转塔单元上的测试界面单元进行电性测试，之后，再将完成测试的半导体构装元件搬移该置料单元上并进行分类。