[发明专利]半导体器件及其测试方法无效
| 申请号： | 200610077865.3 | 申请日： | 2006-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN1866398A | 公开（公告）日： | 2006-11-22 |
| 发明（设计）人： | 松本康宽 | 申请（专利权）人： | 尔必达存储器股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/409 | 分类号： | G11C11/409;G11C11/34 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 陈瑞丰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体器件，包括读出放大器；驱动电路，用于按照可控制的方式对读出放大器提供预定电位；以及断路晶体管，所述断路晶体管设置在读出放大器和驱动电路之间。按照本发明，断路晶体管可以使读出放大器与驱动电路断开。因此，当在从激励字线直到激励读出放大器的至少一部分周期期间内使读出放大器与驱动电路断开时，能够立即停止从位线流出电荷和向位线流入电荷。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，包括：至少一个读出放大器；驱动电路，用于按照可控制的方式向读出放大器提供预定电位；和至少一个断路器，所述断路器设在读出放大器和驱动电路之间，用以使读出放大器与驱动电路断开。
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