[发明专利]校准计算机断层X射线光束跟踪回路的方法和设备无效
| 申请号： | 200610077842.2 | 申请日： | 2006-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1857163A | 公开（公告）日： | 2006-11-08 |
| 发明（设计）人： | E·H·曹;T·L·托思;M·S·哈米德 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01N23/04;G01T1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘红;王忠忠 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种确定用于定位计算机断层成像系统的X射线光束(16)的跟踪控制参数的方法，该成像系统(10)包括可逐步定位的移动准直仪(53)和包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)的检测器阵列(18)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)。该方法包括：确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置(220，222)；计算(104)对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 计算机 断层 射线 光束 跟踪 回路 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种计算机断层(CT)成像(10)，包括：可逐步定位的移动准直仪(53)；检测器阵列(18)，包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)；以及与所述准直仪和所述检测器阵列耦合的计算机(36)，所述计算机配置成：确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束位置(220，222)；计算(104)对应于多个检测器行和通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。
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