[发明专利]用于在磁共振数据中确定横向松弛时间T2*的方法有效
申请号: | 200610064305.4 | 申请日: | 2006-12-20 |
公开(公告)号: | CN101063712A | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
发明(设计)人: | 斯蒂芬·塞森 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R33/465 | 分类号: | G01R33/465;G01R33/563;G01N24/00;A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及在MR数据中用下述步骤确定横向松弛时间T2*的方法:采集测量体积内时间上变化的横向磁化并从测量体积内的磁化时间变化确定横向松弛时间。为能够可靠地确定横向松弛时间T2*,执行下述步骤:测定测量体积中的局部磁场并取决于局部磁场校正松弛时间,以便产生校正后的横向松弛时间,其中局部磁场通过下述步骤测定:在多个预定的回波时间(TE)内测定磁化的相位变化,其中回波时间具有彼此不同的间隔(ΔTE),并从磁化的相位变化中确定局部磁场,其中在测量体积内的至少一个位置如此匹配回波时间之间的间隔(ΔTE),使得可以在无相位转换的条件下确定局部磁场。 | ||
搜索关键词: | 用于 磁共振 数据 确定 横向 松弛 时间 t2 sup 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于在MR数据中确定横向松弛时间T2*的方法,具有步骤:采集测量体积中的T2*松弛,从该测量体积中磁化在时间上的变化确定松弛时间,测定该测量体积中的局部磁场,和根据该局部磁场校正松弛时间,以便产生校正后的横向松弛时间,其中,所述局部磁场是通过下述步骤测定的:在多个预定的回波时间(TE)内测定该磁化的相位变化,其中,所述回波时间具有彼此不同的间隔(ΔTE),和从该磁化的相位变化确定该局部磁场,其特征在于,在所述测量体积内的至少一个位置上如此地匹配回波时间之间的间隔(ΔTE),使得可以在无相位转换的条件下确定该局部磁场。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司,未经西门子公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610064305.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法、数据系统、接收设备和数据读取方法
- 数据记录方法、数据记录装置、数据记录媒体、数据重播方法和数据重播装置
- 数据发送方法、数据发送系统、数据发送装置以及数据结构
- 数据显示系统、数据中继设备、数据中继方法及数据系统
- 数据嵌入装置、数据嵌入方法、数据提取装置及数据提取方法
- 数据管理装置、数据编辑装置、数据阅览装置、数据管理方法、数据编辑方法以及数据阅览方法
- 数据发送和数据接收设备、数据发送和数据接收方法
- 数据发送装置、数据接收装置、数据收发系统、数据发送方法、数据接收方法和数据收发方法
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置
- 数据发送方法、数据再现方法、数据发送装置及数据再现装置