[发明专利]用于在磁共振数据中确定横向松弛时间T2*的方法有效

专利信息
申请号: 200610064305.4 申请日: 2006-12-20
公开(公告)号: CN101063712A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 斯蒂芬·塞森 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/465 分类号: G01R33/465;G01R33/563;G01N24/00;A61B5/055
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 邵亚丽;李晓舒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 磁共振 数据 确定 横向 松弛 时间 t2 sup 方法
【权利要求书】:

1.一种用于在MR数据中确定横向松弛时间T2*的方法,具有步骤:

采集测量体积中的T2*松弛,

从该测量体积中磁化在时间上的变化确定松弛时间,测定该测量体积中 的局部磁场,和

根据该局部磁场校正松弛时间,以便产生校正后的横向松弛时间,其中, 所述局部磁场是通过下述步骤测定的:

在多个预定的回波时间(TE)内测定该磁化的相位变化,其中,所述 回波时间具有彼此不同的间隔(ΔTE),和

从该磁化的相位变化确定该局部磁场,

其特征在于,

在所述测量体积内的至少一个位置上如此地匹配回波时间之间的间隔 (ΔTE),使得可以在无相位转换的条件下确定该局部磁场。

2.根据权利要求1的方法,其中,借助于用于对场均匀性的进行电微 调的测量来测定所述局部磁场。

3.根据权利要求1的方法,其中,根据关系式

依赖于位置地确定实际与所设定的共振频率的频率偏离,式中,Δv是频率 偏离,是相位角的变化,ΔTE是回波时间之间的时间间隔,以及

从所述频率偏离Δv中确定实际的局部磁场。

4.根据权利要求1的方法,其中,依赖于局部磁场根据关系式

(1/T2*被观察值)≈(1/T2*被校正值)+γπΔB0

校正所述横向松弛时间T2*,其中,γ是回磁比,而ΔB0是在测量位置上 与假设的磁场的偏离。

5.根据权利要求1的方法,其中,以恒定的重复率采集所述测量体积 中的所述磁化。

6.根据权利要求1的方法,其中,为确定所述局部磁场将一个模型函 数与该局部磁场的测量值进行匹配。

7.根据权利要来1的方法,其中,将所述回波时间之间的间隔(ΔTE) 在测量体积中的一个位置上(a)选择得非常小,或者(b)如此选择,使 得形成同相条件。

8.根据权利要求1的方法,其中,使用与所述测量体积相邻的区域作 为基准。

9.根据权利要求1的方法,其中,确定血样的横向松弛时间作为基准。

10.根据权利要求1的方法,其中,在预定大小的体积元素(体素)范 围内平滑该局部磁场的测量值。

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