[发明专利]一种发光二极管的电性参数测试电路无效

专利信息
申请号: 200610061729.5 申请日: 2006-07-18
公开(公告)号: CN1900729A 公开(公告)日: 2007-01-24
发明(设计)人: 杨少辰;韩金龙;罗会才;潘登 申请(专利权)人: 杨少辰;韩金龙;罗会才
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518103广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种发光二极管的电性参数测试电路,其中,该电路由校准回路、恒压控制回路、恒流控制回路组成,所述校准回路中设置有标准电源,提供整个电路自检标准电源;所述恒压控制回路通过D/A恒压源基准提供高精度的恒压源的参考电压;所述恒流控制回路通过D/A恒压源基准提供高精度的恒流源的参考电压;恒压控制回路和恒流控制回路中设置有反馈电路,提高了电源的输出精度。
搜索关键词: 一种 发光二极管 参数 测试 电路
【主权项】:
1、一种发光二极管的电性参数测试电路,其特征在于,电阻R1、R2与R3串联,连接在地线与恒压源/恒流源之间,由计算机上层控制软件控制恒压源/恒流源的输出,标准电压源接入电路,构成本电路的校准回路,通过电阻R2两端的取样电路获取该回路中的电流大小,并将获取的电流值与指定的标准电压源均通过切换电路输入至计算机上层控制软件;计算机上层控制软件分别与D/A恒压源基准和D/A恒流源基准相接,所述D/A恒压源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒压源相连,电阻R2和R3之间的节点电位与比较器的另一个输入端相连,形成与恒压源相关的反馈电路,该比较器的输出端与恒压源连接,恒压源与其反馈电路构成本电路的恒压控制回路;所述D/A恒流源基准通过与其对应的比较器的一个输入端与恒流源相连,电阻R1两端的取样电压与比较器的另一个输入端相连,形成与恒流源相关的反馈电路,该比较器的输出端分别与恒流源连接,恒流源与其反馈电路路构成本电路的恒流控制回路;测试发光二极管时,电阻R3与电阻R1、R2断开,待测发光二极管与电阻R1、R2串联。
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