[发明专利]开闭检测装置及使用该开闭检测装置的控制系统无效
| 申请号： | 200610061068.6 | 申请日： | 2006-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN101086660A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 郭石坤;唐学东;杨锦松;赵关东 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/00 | 分类号： | G05B19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种开闭检测装置，包括盖体、本体、枢转机构及检测单元。盖体与本体通过枢转机构相连接，并可以枢转机构为轴相对转动。检测单元包括顶触部及顶触开关，顶触部设于盖体上，且位于盖体与本体相连接的一侧。本体开设有开口，顶触开关设于本体的内部，顶触部通过开口伸入本体的内部。顶触部可随盖体相对本体转动而触发顶触开关产生相应的转动状态检测信号。本发明还提供一种使用该开闭检测装置的控制系统。 | ||
| 搜索关键词： | 开闭 检测 装置 使用 控制系统 | ||
【主权项】：
1.一种开闭检测装置，包括盖体、本体、枢转机构及检测单元，所述盖体与所述本体通过所述枢转机构相连接，并可以所述枢转机构为轴相对转动，所述检测单元包括顶触部及顶触开关，所述顶触部设于所述盖体上，且位于所述盖体与所述本体相连接的一侧，其特征在于：所述本体开设有开口，所述顶触开关设于所述本体的内部，所述顶触部通过所述开口伸入所述本体的内部，所述顶触部可随所述盖体相对所述本体转动而触发所述顶触开关产生相应的转动状态检测信号。
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