[发明专利]平面度及平行度测试系统及测试方法无效
| 申请号： | 200610060314.6 | 申请日： | 2006-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN101055172A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | 李雷;成智;陈平;孙爱鸽;翟学良;孙长发 | 申请（专利权）人： | 深圳富泰宏精密工业有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00;G01B21/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块。一种平面度及平行度测试方法即采用上述平面度及平行度测试系统测量工件受测面的平面度及受测面与基准面之间的平行度。与现有技术相比，本发明提供的平面度及平行度测试系统体积小巧，结构简单，其相应的测试方法操作简便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 平面 平行 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种平面度及平行度测试系统，包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，其特征在于：该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据。
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