[发明专利]平面度及平行度测试系统及测试方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种平面度及平行度测试系统及测试方法，特别涉及一种将平面度及平行度测量转化为距离测量的平面度及平行度测试系统及测试方法。

【背景技术】

实际生产中经常需要对多种工件进行平面度或平行度的测量。目前在该领域主要采用三次元量测技术对工件进行抽样量测，一般情况下对每一被测工件需要依次序测量受测面上多个测试点的相关数据，然后由电脑处理后输出受测面平面度或受测面与基准面之间平行度的测量结果。该方法的主要缺点在于操作较为复杂，逐一地对每个测试点进行测量及数据处理需要较长时间，测试速度较低；且现有的三次元测量仪器体积较为庞大，结构复杂，移动不便，只适合在实验室中对少数产品样本进行检测，不能满足在生产线上进行大规模测试的要求。

【发明内容】

有鉴于此，有必要提供一种体积较小，结构简单的平面度及平行度测试系统。

另外，有必要提供一种操作简便快捷的平面度及平行度测试方法。

一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据。

一种平面度及平行度测试方法，该方法包括以下步骤：提供一种平面度及平行度测试系统，其包括一放置待测工件的测试仪器及一数据处理器，其中测试仪器包括一箱体及一量测机构，该箱体包括若干可确定一基准面的支持件，该量测机构可测量测试点与该基准面之间的距离作为测试数据；所述数据处理器与量测机构连接，该数据处理器包括一输入/输出模块、一参数设置模块及一数据处理模块，其中输入/输出模块用于在测试仪器及数据处理器之间传输数据，参数设置模块用于设置测试参数，数据处理模块用于处理测试数据；设置所述测试仪器及数据处理器的测试参数；用所述量测机构测量受测面上若干测试点与基准面之间的距离作为测试数据，并输入数据处理器；用数据处理器对测试数据加以分析并与测试参数进行比较，得出平面度及平行度测试结果。

与现有技术相比，本发明提供的平面度及平行度测试系统体积小巧，结构简单；本发明提供的平面度及平行度测试方法能够将复杂的平面度及平行度直接测量转化为测试点到基准面的距离，操作简便快捷。

【附图说明】

图1为本发明平面度及平行度测试系统的较佳实施例中测试仪器的外观示意图。

图2为本发明平面度及平行度测试系统的较佳实施例中测试仪器的箱体内部元件的结构框图。

图3为本发明平面度及平行度测试系统的较佳实施例中数据处理器的功能模块图。

图4为本发明平面度及平行度测试方法的较佳实施例的操作流程图。

【具体实施方式】

请参阅图1至图3，本发明平面度及平行度测试系统的较佳实施例包括一测试仪器1及一与该测试仪器1相互连接的数据处理器2，用于对具有平面结构的工件的受测面的平面度及受测面与基准面之间的平行度进行测试。

测试仪器1包括一箱体12、一量测机构14、一接口16、一标准校零块18及一控制装置19。其中箱体12包括一水平的顶板121及若干个支持件122，该支持件122的数量不少于三个，间隔地设置在顶板121上，且所有支持件122的顶端共同确定一水平的基准面(图未示)。量测机构14可测量该基准面与从待测工件上选取的测试点之间的距离作为测试数据，该量测机构14包括若干个千分表141，所有千分表141均装设在箱体12内，且每个千分表141均包括一可伸缩的测杆142，该测杆142的顶端穿透顶板121伸出箱体12之外，且测杆142顶端的位置与从待测工件上选取的测试点的位置一一对应。所有千分表141均与接口16连接。标准校零块18具有一高精度的校零平面181，用于在对工件进行测试之前对系统进行校零。控制装置19由装设在箱体12外部的按钮191、装设在箱体12内部的驱动机构192及控制器193组成，该控制装置19与千分表141连接，可调节测杆142的位置。