[发明专利]双测试天线的测试室无效
| 申请号： | 200610036305.3 | 申请日： | 2006-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN101097234A | 公开（公告）日： | 2008-01-02 |
| 发明（设计）人： | 杨华青 | 申请（专利权）人： | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神达电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528308广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，主要具有一天线架可选择性装设一测试天线，使电子装置的二电磁波相关测试可共享一测试室，并且能减少搬动测试天线所产生的测试误差。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 天线 | ||
【主权项】：
1、一种双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其特征在于其包括：一隔离室，具有屏蔽效果；一测试桌，设置在该隔离室内，用以摆置该电子装置；一第一测试天线，设置在该隔离室内且与该测试桌相距一第一既定距离；一天线架，设置在该测试桌和该第一测试天线之间且与该测试桌相距一第二既定距离，用以选择性装设一第二测试天线，其中，当该天线架未装设该第二测试天线时，该电子装置借由该第一测试天线进行电磁波相关测试；以及当该天线架装设该第二测试天线时，该电子装置借由该第二测试天线进行电磁波相关测试；数个吸波材料，设置在该隔离室的内侧壁面，用以避免该隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。
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