[发明专利]双测试天线的测试室

说明书

【技术领域】

本发明关于一种用以进行电磁波相关测试的测试室，特别是一种双测试天线的测试室。

【背景技术】

随着科技的进步，各式各样地计算机(Computer)、通讯(Communication)和消费性电子(Customer Electronic)的整合系统设备快速发展，以带给人们更方便的生活。然而，随着电子电机设备的相关产品的广泛使用相对造成复杂电磁噪声环境。

因此，所有电子电机设备的相关产品都符合相关的电磁兼容性(Electromagnetic Compatibility；EMC)标准和规范，才能进行销售。电磁兼容测试分为电磁干扰及电磁耐受度测试，于是在产品的整个研发过程中，就必须反复进行电磁干扰及电磁耐受度测试，以验证其是否符合相关的EMC标准和规范，进而找出产品设计及生产过程中EMC上的盲点，以使生产的电子电机设备的相关产品都符合相关的EMC标准和规范。

故促使EMC测试场地的快速成长，目前，在较大规模的信息厂都趋向自行筹建EMC测试室(chamber)，以节省成品并加速产生研发。

此外，随着无线电信通讯技术与无线数据通讯技术，许多产品都还具备无线传输功能，例如：手机、无线网络卡、蓝芽、无线鼠标、无线键盘、桥接器、路由器及其它无线产品等，此些产品除了需进行EMC测试还需进行射频(radio-frequency；RF)测试，以测试其电磁波的收发功能是否正常。由于架构一间测试室所需非用相当庞大，因此为节省生产成本，大部分的测试室多是EMC测试和RF测试共享。

请参照图1，图1为现有的测试室，主要包括一隔离室110、一测试桌120、一测试天线130和数个吸波材料(Absorber)140。测试天线130朝向测试桌120且相距一既定距离而摆置在隔离室110中，并且在隔离室110的内侧壁面上覆盖吸波材料140。此隔离室110具有提供屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。测试桌120用以摆置待测的电子装置102。测试天线130可发射测试讯号，以进行测试。而吸波材料140可吸收射向隔离室110的内侧壁面的测试讯号，以防止四周壁面反射测试讯号而造成干扰。在测试时，测试人员将待测的电子装置102摆置在测试桌120上，然后，根据欲测试的电磁波相关测试种类而摆置测试天线130，即是当欲进行EMC测试时则设置EMC测试用的测试天线130，而当欲进行RF测试时则设置RF测试用的测试天线130。然后再借由测试天线130进行此待测的电子装置102的EMC测试或RF测试。

也就是说，在现有的测试室中，测试人员会在测试时更换测试天线以进行EMC测试或RF测试，然而RF测试的灵敏度相当高，即使是些许移动亦会对测试结果造成相当大的差异，因此所得到的测试结果易被质疑其准确性。

【发明内容】

鉴于以上的问题，本发明的主要目的在于提供一种双测试天线的测试室，借以大体上解决先前技术所存在的问题。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可减少搬动测试天线所产生的测试误差。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可使射频测试和电磁兼容性测试共享一测试室。

本发明所揭露的双测试天线的测试室，可降低研发及生产成本。

因此，为达上述目的，本发明所揭露的双测试天线的测试室，用以进行一电子装置的电磁波相关测试，其包括：一隔离室、一测试桌、一第一测试天线、一天线架和数个吸波材料。

因此测试桌、第一测试天线、天线架和吸波材料均设置在隔离室内，且此隔离室具有屏蔽效果，可降低外界的电磁干扰。其中，测试桌、天线架和第一测试天线依序设置在隔离室内，且第一测试天线与测试桌之间以及天线架与测试桌之间分别相距第一和第二既定距离，而此第一和第二既定距离由进行测试的电磁波相关测试类别的相关标准和规范所定义。因此，天线架可用以选择性装设一第二测试天线。

当天线架未装设第二测试天线时，摆置在测试桌上的电子装置借由第一测试天线进行电磁波相关测试；反之，当天线架有装设第二测试天线时，摆置在测试桌上的电子装置则借由第二测试天线进行电磁波相关测试。且吸波材料会设置在隔离室的内侧壁面，以避免隔离室的内侧壁面反射测试用的电磁波。

因此，第一测试天线和天线架固定在隔离室的内侧底面上，并且在第一测试天线和天线架的底座上设置吸波材料。