[发明专利]一种高温电阻率的测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200610026917.4 申请日: 2006-05-26
公开(公告)号: CN1851485A 公开(公告)日: 2006-10-25
发明(设计)人: 董显林;周志勇;曹菲 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 20005*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种高温电阻率的测试装置及其测试方法,属于材料测试设备领域。本发明的测试装置包括测试夹具(1),温控加热炉(2),高阻计(3),屏蔽机构(4),电源(5),其中电源(5)分别连接高阻计(3)和温控加热炉2,高阻计(3)连接电极测试台(1)检测电阻,屏蔽机构(4)罩于测试夹具(1)内部和外部。本发明的测试方法包括准备电阻的检测装置;测试夹具的校准;待测样品的准备;屏蔽装置接地;高阻计的测量和计算电阻率等步骤。本发明的测量装置和测试方法能对室温电阻率较高(>1012Ω·cm)的材料进行高温(RT~800℃)电阻率测量,结构简单,使用方便,具有较高的可靠性和稳定性。
搜索关键词: 一种 高温 电阻率 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
1、一种高温电阻率的测试装置,包括测试夹具(1),温控加热炉(2),高阻计(3),屏蔽机构(4),电源(5),其特征在于:电源(5)分别连接高阻计(3)和温控加热炉2,高阻计(3)连接电极测试台(1)检测电阻,屏蔽机构(4)罩于测试夹具(1)内部和外部。
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