[发明专利]一种耐电晕聚酰亚胺薄膜及其制备方法无效

专利信息
申请号: 200610023173.0 申请日: 2006-01-10
公开(公告)号: CN1793231A 公开(公告)日: 2006-06-28
发明(设计)人: 邵爱凤 申请(专利权)人: 上海电器科学研究所(集团)有限公司
主分类号: C08L79/08 分类号: C08L79/08;C08J5/18;C08K3/36
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 俞宗耀
地址: 200063*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种耐电晕聚酰亚胺薄膜,其成分配比为:均苯四甲酸二酐以质量计占30%、4.4/一二氨基二苯醚以质量计占30%、二甲基乙醚胺以质量计占15%、正硅酸乙酯以质量计占5%、甲基三乙氧基硅烷以质量计占6%、异丙醇铝以质量计占4%、N-甲基1-2吡咯烷酮以质量计占适量;其制备方法是:聚酰胺酸在搅拌下加入正硅酸乙酯硫酸铝、水和催化剂制得混合溶液,再亚胺化,可以制得自支撑膜,将聚酰胺酸与三乙胺作用,以甲醇为溶剂进行溶胶-凝胶化反应,可得到含20%Al2O3.SiO2的透明薄膜,采用二胺制得功能化的聚酰胺酸,达到70%仍可得到透明薄膜用苯基三乙基硅氧烷(PTEO)代替TEOS得到SiO2含量45%且相容性良好的透明薄膜,在溶胶-凝胶化过程中加入少量偶联剂有效地增加两相的相容性。
搜索关键词: 一种 电晕 聚酰亚胺 薄膜 及其 制备 方法
【主权项】:
1、一种耐电晕聚酰亚胺薄膜,其特征在于:将聚酰胺酸通过流延法涂膜和亚胺化工艺及亚胺化程度控制,再经过热处理后,得到耐电晕聚酰亚胺薄膜,其成份配比为:均苯四甲酸二酐以质量计占30%、4.4/一二氨基二苯醚以质量计占30%、二甲基乙醚胺以质量计占15%、正硅酸乙酯以质量计占5%、甲基三乙氧基硅烷以质量计占6%、异丙醇铝以质量计占4%、N-甲基1-2吡咯烷酮以质量计占适量。
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