[发明专利]用于集成电路测试的内部参考电压产生无效
| 申请号： | 200610004028.8 | 申请日： | 2006-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN1808131A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | J·黑蒂 | 申请（专利权）人： | 因芬尼昂技术股份公司 |
| 主分类号： | G01R1/28 | 分类号： | G01R1/28;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张雪梅;张志醒 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 公开了一种或多种方法，提供电源电压给集成电路，将所述集成电路设置成测试模式以选择集成电路上的多个参考电压发生器中的一个来给集成电路上的另一个电压发生器提供参考电压，该参考电压至少部分地依赖于所述电源电压，并利用提供给该另一个电压发生器的参考电压来测试所述集成电路。公开了一种或多种集成电路，包括：集成电路上的第一电压发生器，用来产生至少部分地依赖于给所述集成电路供电的电源电压的第一电压；集成电路上的第二电压发生器，用来产生第二电压；集成电路上的第三电压发生器，用来基于参考电压产生一个或多个内部电压；及控制电路，用来选择第一电压用作测试模式中的参考电压和选择第二电压用作非测试模式中的参考电压。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 测试 内部 参考 电压 产生 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试集成电路的方法，包括：给集成电路提供电源电压；将集成电路设置为测试模式以选择集成电路上的多个参考电压发生器中的一个，来给集成电路上的另一个电压发生器提供参考电压，该参考电压至少部分地依赖于所述电源电压；及用提供给该另一电压发生器的参考电压来测试所述集成电路。
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