[发明专利]利用参数测定单元进行转换器测试无效
| 申请号： | 200580044600.7 | 申请日： | 2005-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN101088223A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 欧内斯特·P·沃克;罗纳德·A·萨特斯奇夫 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;H03M1/06 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 穆德骏;黄启行 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的一方面是一种用于测试模数转换器(ADC)的集成电路(IC)，它包括参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向ADC发送力信号。该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)。DAC具有精确度小于1毫伏的直流电平。本发明的另一方面是一种用于测试被测数模转换器器件(DACDUT)的集成电路(IC)。该IC包括一个参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向DACDUT发送力信号，且包括一个用于进行测定的输出端口，该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)，以及一个连接到输出端口的PMU测定路径，它具有精确度小于1毫伏的直流电平。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 参数 测定 单元 进行 转换器 测试 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试模数转换器的集成电路(IC)，包括：参数测定单元(PMU)的第一通道，其设置成用于发送力信号；以及连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)，该DAC具有精确度小于1毫伏的直流电平。
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