[发明专利]用于对电路进行评估的方法、系统和程序产品有效
| 申请号： | 200580041857.7 | 申请日： | 2005-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN101375282A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 米歇尔·K.·库克;布鲁斯·R.·阿查姆比尤尔特;查尔斯·R.·盖茨;德里克·D.·斯科特 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了用于设计和/或评估电路的改善的解决方案。可以在电路的设计数据(50)检测规则违反，并可以基于对设计数据(50)的调整，生成预测。例如，可以基于设计数据(50)中的可调参数的调整窗口(66)，生成多个预测。预测可以被显示给用户(12)，用户可以确定对设计数据(50)的所需要的修改。可以由用户(12)应用修改，和/或通过电路设计工具自动地应用修改。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电路 进行 评估 方法 系统 程序 产品 | ||
【主权项】：
1.一种对电路进行评估的方法，所述方法包括:获取电路的设计数据(50)；基于设计数据(50)检测是否存在规则违反；为规则违反获取可调参数的调整窗口(66)；以及基于调整窗口生成多个预测(68)。
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