[发明专利]用于对电路进行评估的方法、系统和程序产品

权利要求书

1.一种对电路进行评估的方法，所述方法包括：

获取电路的设计数据(50)；

基于设计数据(50)检测是否存在规则违反；

为规则违反获取可调参数的调整窗口(66)；以及

基于调整窗口生成多个预测(68)，

其中生成步骤包括：

基于规则违反获取计算算法；

基于调整窗口(66)，为可调参数生成多个调整；以及

通过应用计算算法，确定多个调整中的每一个调整的预测影响，其中，多个预测(68)中的每一个预测都包括调整和对应的预测影响。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，获取计算算法步骤包括：

获取对样本电路的样本设计数据的一组全波模拟的一组结果，其中，样本设计数据包括与设计数据(50)类似的一组参数；以及

基于所述结果组，生成计算算法。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，获取一组结果的步骤包括：

获取样本设计数据；

对样本设计数据执行全波模拟；

为可调参数定义样本调整窗口；

调整样本调整窗口中的多个调整中的每一个调整的样本设计数据；以及

为每一个调整的样本设计数据重复执行全波模拟的步骤，其中，所述结果组包括每一个全波模拟的结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，获取计算算法步骤包括：

获取与设计数据(50)具有类似的一组参数的样本电路的实际测量值；以及

基于实际测量值，生成计算算法。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括基于多个预测(68)中的一个，获取用以实现到设计数据(50)中的修改。

6.根据权利要求5所述的方法，进一步包括自动地将修改实现到设计数据(50)中。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，检测步骤包括：

获取定义规则违反的规则；以及

将规则应用于设计数据(50)。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，检测步骤进一步包括获取规则的一组可接受值，其中，所述可接受值组进一步定义规则违反。

9.根据权利要求1所述的方法，进一步包括将多个参数中的一个标识为可调参数。

10.根据权利要求1所述的方法，其中，获取调整窗口步骤包括自动地分析设计数据(50)，以确定调整窗口(66)的最小调整。

11.一种用于对电路进行评估的系统，所述系统包括：

用于获取电路的设计数据(50)的装置；

用于基于设计数据(50)检测是否存在规则违反的装置；

用于为规则违反获取可调参数的调整窗口(66)的装置；以及

用于基于调整窗口(66)生成多个预测(68)的装置，

其中，用于生成多个预测的装置包括：

用于基于规则违反获取计算算法的装置；

用于基于调整窗口(66)，为可调参数生成多个调整的装置；以及

用于通过应用计算算法，确定多个调整中的每一个调整的预测影响的装置，其中，多个预测(68)中的每一个预测都包括调整和对应的预测影响。

12.根据权利要求11所述的系统，进一步包括用于基于多个预测(68)中的一个，获取用以实现到设计数据(50)中的修改的装置。

13.根据权利要求12所述的系统，进一步包括用于自动地将修改实现到设计数据(50)中的装置。

14.根据权利要求11所述的系统，其中，用于检测的装置包括：

用于获取定义规则违反的规则的装置；以及

用于将规则应用于设计数据(50)的装置。

15.根据权利要求11所述的系统，进一步包括用于将多个参数中的一个标识为可调参数的装置。

16.根据权利要求11所述的系统，其中，用于获取调整窗口(66)的装置包括用于分析设计数据(50)，以确定调整窗口(66)的最小调整的装置。