[发明专利]光学检测器结构以及在单片集成光电装置中作为反馈控制的应用有效
| 申请号： | 200580035638.8 | 申请日： | 2005-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN101283300A | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 大卫·佩德;卡尔潘都·夏斯特里;罗伯特·蒙哥马利;普拉卡什·约托斯卡;威普库马·帕特尔;玛丽·纳多 | 申请（专利权）人： | 斯欧普迪克尔股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B6/12 | 分类号： | G02B6/12;G02B6/10 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 霍育栋;郑霞 |
| 地址： | 美国宾夕*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 通过使用单片光电反馈装置，提供了对于基于SOI的光电系统的可靠性和使用寿命的改进，该单片光电反馈装置监控光电系统内的一个或更多个光信号，并提供电反馈信号以调整选择的光学设备的运行参数。例如，可以控制输入信号耦合方向。可选地，光学调制器、开关、滤波器或衰减器可以通过创造性单片反馈装置的功效受到闭环反馈控制。反馈装置还可以包括连接到控制电子器件的校准/查找表，以提供用于分析此系统性能的基准信号。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测器 结构 以及 单片 集成 光电 装置 作为 反馈 控制 应用 | ||
【主权项】：
1. 一种单片光电反馈装置，其用于控制绝缘体上硅(SOI)结构中形成的至少一个光学设备中的光，所述单片光反馈装置形成在相同的所述绝缘体上硅结构中，并且包括：至少一个光学检测设备，其设置成接收传播通过所述至少一个光学设备的光信号的一部分，以测量来自所述至少一个光学设备的输出光信号功率；以及控制电子器件模块，其响应于来自所述至少一个光学检测设备的所述输出信号，将所述测量的输出信号功率与预定的值进行比较，以及基于所述比较将反馈控制信号施加到所述至少一个光学设备。
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