[发明专利]通过温度测量改善半导体存储装置中的动态刷新的设备和方法有效
| 申请号： | 200580026756.2 | 申请日： | 2005-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN1993765A | 公开（公告）日： | 2007-07-04 |
| 发明（设计）人： | R·M·沃克;P·W·小雷马克鲁斯 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/406 | 分类号： | G11C11/406 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 沙捷 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文公开了一种存储系统和用于刷新存储器的处理。存储系统包括存储器、配置成测量存储器温度的温度传感器，和配置成以刷新速率来刷新存储器的存储器控制器，刷新速率被控制为由温度传感器测量的温度的函数。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 温度 测量 改善 半导体 存储 装置 中的 动态 刷新 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储系统，包括：存储器；温度传感器，其被配置成测量所述存储器的温度；和存储器控制器，其被配置成以刷新速率来刷新所述存储器，所述刷新速率被控制为由所述温度传感器测量的温度的函数。
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