[发明专利]通过SERS增强化学基团检测的具有层化等离子体结构的光学传感器无效
申请号: | 200580016209.6 | 申请日: | 2005-05-19 |
公开(公告)号: | CN1957245A | 公开(公告)日: | 2007-05-02 |
发明(设计)人: | V·波波尼恩 | 申请(专利权)人: | VP控股有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01J3/44 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了一种用于可见光激发光束和拉曼光谱仪检测器的光学传感器和方法,用于检测提供给传感器的待分析物中的化学基团的存在。该传感器包括基板,形成在基板的传感器表面上的等离子体谐振镜,布置在镜上的等离子体谐振微粒层,以及将镜与微粒层分隔开的大约2-40nm厚的光学透明绝缘层。微粒层由周期性的等离子体谐振微粒阵列构成,该阵列具有(i)有效粘附于待分析物分子的涂层,(ii)50-200nm之间选定尺寸范围内的基本均匀的微粒尺寸和形状,(iii)小于激光激发光束的波长的规则的周期性微粒-微粒间距。该设备能够以高至1012-1014的放大系数检测待分析物,能够检测单个待分析物分子。 | ||
搜索关键词: | 通过 sers 增强 化学 基团 检测 具有 等离子体 结构 光学 传感器 | ||
【主权项】:
1.一种用于可见光激光激发光束和拉曼光谱仪检测器的光学传感器,用于检测提供给传感器的待分析物中化学基团的存在,包括:(a)基板;(b)形成在基板的传感表面上的等离子体谐振镜;(c)布置在所述镜上的,由周期性等离子体谐振微粒阵列构成的等离子体谐振层,具有(i)有效连接待分析物分子的涂层,(ii)在50-200nm选定尺寸范围内的基本均匀的微粒尺寸和形状,(iii)小于激光激发光束的波长的规则的周期性微粒-微粒间距,以及(d)将所述镜与所述微粒层分隔开的具有2-40nm之间厚度范围中选定厚度的光学透明绝缘层;其中在所述检测器中以所述激光激发光束照射粘附于所述微粒层的待分析物,所述待分析物的拉曼光谱具有至少1010的放大系数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于VP控股有限公司,未经VP控股有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580016209.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:存储介质转换方法、程序和设备
- 下一篇:火山岩粘合实木板