[发明专利]检查装置无效
| 申请号： | 200580013142.0 | 申请日： | 2005-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN1977177A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 海因里希·斯特恩格 | 申请（专利权）人： | 斯特拉图斯影像有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308;G01R31/309 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 赵科 |
| 地址： | 德国格*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有检查头的检查装置，该检查头可在至少两个方向上相对于导向底面移动。该导向底面支撑待检查的基底，其中该基底具有至少两个印刷层，该印刷层相互之间至少部分重叠地连续敷设。检查头具有照明装置和检测装置，该检测装置检测被基底反射或穿透基底的电磁辐射并传送给分析装置，利用该分析装置可以检测基底(30)的缺陷。检查头(12)必要时还具有锥形扩口的通道(24)，在其内圆周上设置多个发光元件，检测装置(14)包括具有光学系统的数字照相机(18)，其检测基底(30)上小于30微米的分辨率，通过运动装置在拍摄周期中控制导向底面(32)和检查头(12)之间的相对运动，在该拍摄周期中将相邻的或重叠的单幅图像组合成基底(30)的一幅整体图像。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.具有检查头的检查装置，其中所述检查头可在至少两个方向上相对于导向底面移动，所述导向底面支撑待检查的基底，其中所述基底具有至少一个敷设的、尤其是印刷的层，所述检查头包括照明装置和检测装置，其中所述检测装置检测被基底反射的或穿透基底的电磁辐射并将其传送到分析装置，利用所述分析装置可以检测所述基底(基底(30)的缺陷)与预定基底的偏差或与预定基底(30)一致，其特征在于，所述检测装置(14)包括具有光学系统的数字照相机(18)，其检测基底(30)上小于200微米、尤其是小于30微米的分辨率，并且运动装置在拍摄周期期间控制导向底面(32)和检查头(12)之间的相对运动，其中在所述拍摄周期中相邻的或重叠的单幅图像可以组合成基底(30)的一幅整体图像。
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