[发明专利]靶标物质的识别芯片、其检测方法和设备有效
| 申请号： | 200580006934.5 | 申请日： | 2005-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN1926424A | 公开（公告）日： | 2007-03-07 |
| 发明（设计）人： | 山道淳太;小川美纪;饭田洋一郎;今村刚士;宇都宫纪彦;西马聪 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/05 | 分类号： | G01N21/05;G01N21/66;G01N21/64;G01N21/55;B01L3/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 苏娟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种检测设备包括：包括其性质会因为与靶标物质接触而发生改变的多个物体(105)的基板(103)，用于使靶标物质与所述物体相接触的装置，以及用于根据在用光(102)照射所述物体时产生的光输出(106)检测因为在靶标物质与所述物体相接触时所导致的物体性能的变化的装置(101，107)，其中所述多个物体位于照射光行进的方向上，并且该检测装置是一种用于根据在照射光时从所述多个物体输出的光的总和来检测性能变化的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 靶标 物质 识别 芯片 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种检测设备，其包括：基板，其包括性质会因为与靶标物质接触而发生改变的多个物体；用于使靶标物质与所述物体相接触的装置；以及用于根据在用光照射所述物体时产生的光输出来检测因为在靶标物质与所述物体相接触时所导致的物体性能的变化的装置，其中所述多个物体位于照射光行进的方向上，并且该检测装置是一种用于根据在照射光时从多个物体输出的光的总和来检测性能变化的装置。
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