[发明专利]包括有源和无源微辐射热计的辐射热检测装置的制造方法无效

专利信息
申请号: 200580006481.6 申请日: 2005-03-04
公开(公告)号: CN1926416A 公开(公告)日: 2007-03-07
发明(设计)人: 让-路易斯·奥弗里-巴菲特;劳伦斯·卡尔;克莱尔·维亚勒;米歇尔·维拉林 申请(专利权)人: 原子能委员会;ULIS公司
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马高平;杨梧
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种无源微辐射热计(12),包括反射屏(17)和用于吸收辐射、测温及电连接的悬置膜(22)。该膜由固定到支承基板(16)上的至少两个固定件(15)支承。反射屏(17)可由厚度约为500至2000的至少一个金属层(18)支承。该屏(17)布置在膜下方并与膜吸收元件(13)电接触,从而减小由屏(17)和吸收元件(13)组成的单元的面电阻率并避免该吸收元件吸收辐射。
搜索关键词: 包括 有源 无源 辐射热 检测 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种制造辐射热检测装置的方法,该装置包括至少一个有源微辐射热计(19)和至少一个无源微辐射热计(12),每个微辐射热计包括用于吸收辐射、测温及电连接的悬置膜(22),有源微辐射热计(19)和无源微辐射热计(12)同时形成在单个支承基板(16)上,而反射屏(17)形成在整个器件上,随后在相对有源微辐射热计(19)的位置被去除,该方法的特征在于,膜(22)包括测温元件(14)和电连接用的辐射吸收元件(13),无源微辐射热计(12)形成在反射屏(17)上,该反射屏(17)包括与膜(22)的吸收元件(13)接触的至少一个金属层(18)。
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