[实用新型]可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机无效
| 申请号： | 200520141897.6 | 申请日： | 2005-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN2872379Y | 公开（公告）日： | 2007-02-21 |
| 发明（设计）人： | 滕贞勇;许益彰;许丽娇 | 申请（专利权）人： | 普诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 台湾台北县新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种可同时测试多个待测芯片的测试装置以及单颗芯片测试机。该测试装置包括一单颗芯片测试机以及一支持器。该单颗芯片测试机包括一模式存储器以及一微处理器，该模式存储器包括多个模式子存储器，用来分别对该多个待测芯片进行功能模式测试以产生对应于该多个待测芯片的一测试结果；该微处理器用来控制测试的进行并且依据该测试结果产生一接口控制信号。该支持器耦接于该测试机，用来启动该微处理器进行测试，并且接收该接口控制信号以完成置于该支持器上的该多个待测芯片的测试。该测试装置同时具有单颗芯片测试机低成本及多颗芯片测试机较短测试时间的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 测试 多个待测 芯片 装置 以及 | ||
【主权项】：
1、一种可同时测试多个待测芯片的测试装置，其特征在于，该测试装置包括：一单颗芯片测试机，其包括：一模式存储器，该模式存储器包括多个模式子存储器，用来分别对该多个待测芯片进行功能模式测试以产生对应于该多个待测芯片的一测试结果；以及一微处理器，用来控制测试的进行并且依据该测试结果来产生一接口控制信号；以及一支持器，耦接于测试机，用来启动该微处理器进行测试，并且接收该接口控制信号以完成该多个待测芯片的测试，其中该多个待测芯片置于该支持器上；其中该接口控制信号包括：多个测试结束信号分别表示不同的待测芯片完成测试；一测试成功信号以表示对应于一测试结束信号所完成测试的一待测芯片通过测试；以及一测试失败信号以表示对应于一测试结束信号所完成测试的另一待测芯片未通过测试。
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