[实用新型]芯片测试电路板无效
| 申请号： | 200520121452.1 | 申请日： | 2005-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN2874503Y | 公开（公告）日： | 2007-02-28 |
| 发明（设计）人： | 杨东树 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种芯片测试电路板，用来辅助测试仪器测试芯片，其包括若干个用来连接若干种封装形式的芯片中引脚的焊盘，所述每一个焊盘均包括至少一个连接端子，所述连接端子用来连接测试用到的电源或测试仪器或电子元件。该种芯片测试电路板可测试多种封装形式的芯片，大大降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路板 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试电路板，用来辅助测试仪器测试芯片，其特征在于：其包括若干个用来连接若干种封装形式的芯片中引脚的焊盘，所述每一个焊盘均包括至少一个连接端子，所述连接端子用来连接测试用到的电源或测试仪器或电子元件。
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