[发明专利]基于位数可选的EFlash串口测试方法有效
| 申请号： | 200510111429.9 | 申请日： | 2005-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN1982910A | 公开（公告）日： | 2007-06-20 |
| 发明（设计）人： | 陈凯华 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于位数可选的EFlash串口测试方法，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×16位(位数较多)的方式。本发明可以缩短测试时间，降低测试成本，提高产出率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 位数 可选 eflash 串口 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种基于位数可选的EFlash串口测试方法，其特征在于：位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×16位的方式。
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