[发明专利]精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法有效
| 申请号： | 200510111285.7 | 申请日： | 2005-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1979687A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 曾志敏;桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C16/06;H01L21/66;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法，测试嵌入式闪存的所有管脚，通过一个串－并转换逻辑和一个并－串转换逻辑将所述嵌入式闪存的并行接口转换为串行接口引出，闪存的所有地址信号、数据信号及控制信号通过串行方式输入，闪存读出数据及状态响应信号通过串行方式输出。本发明在实现嵌入式闪存可测性的同时，大大减少了芯片管脚数量，节省了芯片面积，从而降低了芯片成本。 | ||
| 搜索关键词： | 精简 管脚 嵌入式 闪存 全面 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种精简管脚的嵌入式闪存全面测试方法，测试嵌入式闪存的所有管脚，其特征是，将所述嵌入式闪存的并行接口转换为串行接口引出，闪存的所有地址信号、数据信号及控制信号通过串行方式输入，闪存读出数据及状态响应信号的通过串行方式输出。
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