[发明专利]用于测试半导体器件的插座组件

摘要

本发明涉及一种用于测试半导体器件的插座组件，包括插座板，电连接到外部测试装置，其中设置有多个连接到半导体引线的连接销；插座导板，安装用来覆盖插座板，并形成有开口部分，使得半导体可以进/出，从而将半导体连接到插座板的连接销；以及间隔件，设置于插座板与插座导板之间，用于通过在每个载座的表面接触插座导板之前接触已经进入插座导板内部的半导体表面，在半导体与插座板之间保持预定的距离。根据本发明，尽管半导体有不同的厚度，但是可以在不替换载座的情况下，将每个半导体的球状体或引线以预定的深度按压至插座的连接销。

主权项

1.一种处理机的用于测试半导体器件的插座组件，其中，半导体可拆卸地固定于处理机上设置的每个载座上，所述半导体被电连接以执行测试，所述插座组件包括：插座板，电连接到外部测试装置，其中，设置有多个连接销，所述连接销连接至所述半导体的引线；插座导板，安装用来覆盖插座板，并形成有开口部分，使得所述半导体可以进/出，从而将所述半导体连接至所述插座板的连接销上；以及间隔件，设置于所述插座板与所述插座导板之间，用于通过在每个载座的表面接触所述插座导板前接触已经进入插座导板内部的半导体的表面，在所述半导体与所述插座板间保持预定的距离。