[发明专利]一种提高电子罗盘精度的磁电阻薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 200510086798.7 申请日: 2005-11-04
公开(公告)号: CN1808734A 公开(公告)日: 2006-07-26
发明(设计)人: 于广华;张辉;腾蛟;王立锦;李希胜;朱逢吾 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12
代理公司: 北京科大华谊专利代理事务所 代理人: 刘月娥
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种提高电子罗盘精度的磁电阻薄膜的制备方法,属于磁性多层膜的制备技术领域。制备工艺为:在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上沉积(Ni0.81Fe0.19)54Cr36(50~200)/Ni0.81Fe0.19(100~1500)/Ta(50~100);然后通过一般的半导体加工工艺将薄膜加工成线宽为2~50微米的磁电阻传感元件;再结合半导体加工工艺在元件两侧平行于条形元件沉积厚为3~10微米Ni0.81Fe0.19薄膜。薄膜制备过程是在磁控溅射仪中进行,溅射室本底真空度为1×10-5~6×10-5Pa,溅射时氩气压为0.4~0.7Pa;基片用循环水冷却,平行于基片方向加有150~250Oe的磁场,以诱发一个易磁化方向。优点在于:该发明具有制备方便、成本低、电子罗盘精度明显提高。
搜索关键词: 一种 提高 电子 罗盘 精度 磁电 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1、一种提高电子罗盘精度的磁电阻薄膜的制备方法,采用NiFeCr诱导层代替Ta诱导层,并且在靠近NiFe条形元件的两侧沉积几个微米厚NiFe薄膜;其特征在于:具体制备工艺为:a、在清洗干净的玻璃基片或单晶硅基片上沉积(Ni0.81Fe0.19)54Cr36(50~200)/Ni0.81Fe0.19(100~1500)/Ta(50~100);然后通过一般的半导体加工工艺将薄膜加工成线宽为2~50微米的磁电阻条型传感元件;再结合半导体加工工艺在条形元件两侧平行于条形元件沉积厚为3~10微米Ni0.81Fe0.19薄膜;在沉积3~10微米Ni0.81Fe0.19薄膜时,有3~10个1000SiO2隔离层;b、薄膜制备过程是在磁控溅射仪中进行,溅射室本底真空度为1×10-5~6×10-5Pa,溅射时氩气压为0.4~0.7Pa,氩气纯度为99.99%;基片用循环水冷却,平行于基片方向加有150~250Oe的磁场,以诱发一个易磁化方向。
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