[发明专利]可降低组立后形变的光学测距装置无效
| 申请号： | 200510084400.6 | 申请日： | 2005-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN1900652A | 公开（公告）日： | 2007-01-24 |
| 发明（设计）人： | 罗胜 | 申请（专利权）人： | 亚洲光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01C3/00 | 分类号： | G01C3/00 |
| 代理公司： | 中国商标专利事务所有限公司 | 代理人： | 万学堂 |
| 地址： | 台湾省台中县潭子乡*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可降低组立后形变的光学测距装置，包含一光学模组、具有塑性的一锁附件、一电路板及一外壳。该锁附件是与该光学模组一侧固结。该电路板是与该锁附件固结，且悬空架置在该光学模组另一侧。该外壳是供前述光学模组与电路板容置，及与该锁附件固结，使该光学模组与电路板获得定位。借此，利用该锁附件吸收组立过程中所产生的大部分形变，使光学测距装置可提高量测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 降低 组立后 形变 光学 测距 装置 | ||
【主权项】：
1.一种可降低组立后形变的光学测距装置，其特征在于其包含：一光学模组；一锁附件，是具有塑性，用以与该光学模组一侧固结；一电路板，是与该锁附件固结，且悬空架置在该光学模组另一侧；及一外壳，是供前述光学模组与电路板容置，及与该锁附件固结，使该光学模组与电路板获得定位。
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