[发明专利]光学测量装置无效
申请号: | 200510083649.5 | 申请日: | 2005-07-13 |
公开(公告)号: | CN1724970A | 公开(公告)日: | 2006-01-25 |
发明(设计)人: | 高山泰治 | 申请(专利权)人: | 三丰株式会社 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B21/00;G01N21/88 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹;邵亚丽 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了一种可以提高检测保护玻璃的污浊的精度的光学式测量装置。通过扫描信号的峰值的90%、50%、10%的大小的阈值分别得到测量对象物的尺寸的测量值Q90、Q50、Q10。判断测量值Q90和测量值Q50的差(即测量值的变化)是否大于等于预定的基准值。(b)~(d)表示大于等于基准值的情况,保护玻璃上存在污浊。(a)是小于基准值,没有污浊。接着,判断测量值Q50和测量值Q10的差是否大于等于预定的基准值。(c)表示大于等于该基准值的情况,保护玻璃上存在污浊。从而,使蜂鸣器鸣叫并点亮红色灯,警告操作者马上除去污浊。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光学式测量装置,其特征在于,包括:投光部件,通过基于从发光元件出射的光束的平行光束对测量对象物位于的扫描区域进行反复扫描;光接收元件,接收通过所述扫描区域的光束并输出扫描信号;二值化信号生成部件,构成为可用多个不同的阈值分别将所述扫描信号二值化,从而生成多个二值化信号;运算部件,基于所述二值化信号运算关于所述测量对象物的测量值;判断部件,对所述运算部件基于所述多个二值化信号的每一个运算的多个测量值进行比较,从而判断从所述发光元件到所述光接收元件为止的所述光束的光程上是否发生了异常;以及通知部件,在所述判断部件判断为所述异常发生时,通知该异常。
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