[发明专利]磁盘装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200510081100.2 申请日: 2005-06-29
公开(公告)号: CN1725356A 公开(公告)日: 2006-01-25
发明(设计)人: 梅村薰;鹫津一彦;嵨村直基;高泽修 申请(专利权)人: 日立环球储存科技荷兰有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11B5/09;G11B5/596;G11B21/10
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 杨林森;谷惠敏
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明提供能够快速准确地检测磁道宽度偏离正常值的磁道的磁盘装置及其制造方法。HDD包括读取磁头112a、磁盘和缺陷磁道检测部分。磁盘具有包括在其上写入的脉冲A、B的伺服数据。伺服数据用于将读取磁头112a定位在磁道中心。缺陷磁道检测部分以如下方式检测缺陷磁道。用脉冲C或D的幅值来除由读取磁头112a通过一次读取操作读取的脉冲A和B的幅值之和来获得比较值。如果该比较值偏离标准特定的百分比或更多,则判断待被判断的磁道的磁道宽度异常。由于写入而不修改脉冲A到D,所以脉冲A到D的尺寸在磁道宽度方向上不管磁道宽度如何而保持不变。因此,在脉冲A和B之间在径向上形成根据磁道宽度变动的缝隙G。在包括该缝隙G的位置读取脉冲A和B,并确定上述比较值,从而检测缺陷磁道。
搜索关键词: 磁盘 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种磁盘装置,包括:磁头,至少用于读取数据;磁盘,其上被写入包括第一和第二脉冲模式的伺服数据,所述伺服数据用于将磁头定位在磁道中心;以及缺陷磁道检测部分,用于检测写入了第一和第二脉冲模式的待被判断的目标磁道,如果基于由磁头的一次读取操作读取所有4种脉冲(第一、第二、第三、第四)模式的结果获得的比较值在特定范围之外,则判断该目标磁道为磁道宽度异常的缺陷磁道。
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