[发明专利]芯片测试方法及相关装置

摘要

本发明提供一种芯片测试方法与相关装置。一般的芯片中会有数字的输出/输入电路以及模拟的发射/接收电路；芯片要发出的信号会经由输出电路转换为特定格式的输出信号再经由发射电路驱动发出。外界传输至芯片的信号会经由接收电路检测，再经由输入电路反转换以形成芯片可解读的信号。而本发明在芯片内建内回路的相关电路，在测试芯片时即可将发射/接收电路旁路而直接将输出电路的输出信号回路至输入电路，以便明确地各自分辨出各个输出/输入电路及发射/接收电路是否正常。

主权项

1.一种芯片，其包含有：一输出电路，用来提供一输出信号；一发射电路，用来将该输出信号发送至该芯片外；一接收电路，用来接收传输至该芯片的信号并提供一对应的接收信号；一输入电路，其具有一输入端口；该输出电路可接收由该输入端口输入的信号并加以处理；以及一多路转换电路，用来选择性地将该输出信号或该接收信号其中的一输入至该输入电路的输入端口。