[发明专利]测量光盘片轨距的方法及其装置无效
| 申请号： | 200510064112.4 | 申请日： | 2005-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN1848251A | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 方世政;萧亦隆 | 申请（专利权）人： | 广明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G06F12/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;马莹 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测量光盘片轨距的方法及其装置，利用一个处理器读取烧录在一只读存储器的步进马达脉冲数，再检测读取伺服单元所读出的光盘片轨数。在执行轨距测量之前，烧录在只读存储器的脉冲数必须乘上单位脉冲转动步进马达的角度再乘上单位角度所推进的位移量，得到步进马达推进读取头移动的总位移量，再除以位移期间读取伺服单元所读取到的光盘片轨数，便得到光盘片轨距。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 盘片 轨距 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测量光盘片轨距的方法，包含下列步骤：读取烧录在一只读存储器的一脉冲数目；驱动一驱动装置以带动读取装置，使其行走该脉冲数目的步数及驱动该读取装置运作；计算该驱动装置行走该脉冲数目的一位移量；计算该读取装置于位移期间所读取到的一光盘片的轨数；以及计算该位移量除以该轨数，得到一轨距。
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