[发明专利]高密度光盘厚度判别方法无效
| 申请号： | 200510029240.5 | 申请日： | 2005-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN1925016A | 公开（公告）日： | 2007-03-07 |
| 发明（设计）人： | 金哲敏 | 申请（专利权）人： | 上海乐金广电电子有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B19/12 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 王月珍 |
| 地址： | 201206上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种高密度光盘厚度判别方法，利用了聚焦差原理，通过聚焦方式判别的，包括：移动物镜，调节其和光盘间距离，使其出现聚焦差，检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置；按照检测到的焦点，利用第1光点测定S－曲线拾取值的位置，将其设定为基准值；放置具有规定厚度光盘；利用和所放置光盘间距离，使其出现聚焦差，检测被聚焦在光检测器上第2光点；利用检测的第2光点测定S－曲线拾取值位置及沸点旋转方向；将检测的第1光点S－曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S－曲线拾取值的位置进行比较，测出两个拾取值位置间变化差；按照测定的沸点的旋转方向，找出光盘厚度差变化；利用检测的旋转方向和位置变化差，检测光盘的厚度差。 | ||
| 搜索关键词： | 高密度 光盘 厚度 判别 方法 | ||
【主权项】：
1、一种高密度光盘厚度判别方法，其特征在于共包括八个步骤：一是移动物镜，调节其和光盘间的距离，在使其出现聚焦差，检测光检测器上聚集的第1光点位于焦点位置的步骤；二是按照检测到的焦点，利用第1光点测定S-曲线拾取值的位置，将其设定为基准值的步骤；三是放置具有规定厚度光盘的步骤；四是利用和所放置光盘间的距离，使其出现聚焦差，检测被聚焦在光检测器上第2光点的步骤；五是利用检测的第2光点测定S-曲线拾取值位置及沸点旋转方向的步骤；六是将检测的第1光点S-曲线拾取值的位置和设定为基准值的第2光点S-曲线拾取值的位置进行比较，测出两个拾取值位置间变化差的步骤；七是按照测定的沸点的旋转方向，找出光盘厚度差变化的步骤；八是利用检测的旋转方向和位置变化差，检测出光盘的厚度差。
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