[发明专利]位场高分辨率视深度滤波方法无效
| 申请号： | 200510011591.3 | 申请日： | 2005-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN1667433A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | 杨辉 | 申请（专利权）人： | 杨辉 |
| 主分类号： | G01V7/06 | 分类号： | G01V7/06 |
| 代理公司： | 北京科大华谊专利代理事务所 | 代理人： | 刘月娥 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种位场高分辨率视深度滤波方法，属于地球物理勘探技术领域。采用垂直一阶导数或二阶导数的高分辨率视深度滤波及水平一阶导数的高分辨率视深度滤波。首先对视深度滤波在波数域中的算子FPDF乘上水平一次导数算子Fgx或垂直一次导数算子Fgz或垂直二次导数算子Fgzz，得到高分辨率视深度滤波在波数域中的算子FHPDF。对原始观测数据进行傅氏变换，然后与高分辨率视深度滤波在波数域中的算子FHPDF相乘，再经过傅氏反变换，得到高分辨率视深度滤波在2D/3D空间分布的数据体。通过绘图软件绘制2D断面图或者3D立体图、水平切片图、垂直切片图；确定场源的质心深度。其优点在于提高异常分辨率，可进行异常分离并能够确定局部及断裂构造质心深度。 | ||
| 搜索关键词： | 高分辨率 深度 滤波 方法 | ||
【主权项】：
1、一种2D/3D位场高分辨率视深度滤波方法，其特征在于：采用垂直一阶导数或二阶导数的高分辨率视深度滤波，提高局部构造分辨率及确定局部构造质心深度；采用水平一阶导数的高分辨率视深度滤波，提高断裂构造分辨率及确定断裂构造深度。
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